123
In de naoorlogse periode is dat duidelijk ge
demonstreerd in enkele van de zogenaamde
„ontwikkelingslanden" waar de uitvoering
van fotogrammetrische kaarteringen werd
aanbesteed om op snelle wijze een basis voor
economische of technische planning te ver
schaffen, onafhankelijk van het tempo waarin
ter plaatse een eigen topografische dienst tot
voldoende produktie kon worden gebracht. De
eisen die hierbij voor de gewenste nauwkeu
righeid werden omschreven bleken soms dui
delijk geïnspireerd te zijn door Europese voor
beelden, waar zij echter lang geleden waren
opgesteld voor terrestrische methoden. Het
gevolg was dat de aannemingssommen zo
hoog kwamen te liggen dat hiervoor de fi
nanciële middelen ontoereikend waren en het
gehele project in gevaar werd gebracht. In het
gunstigste geval, is men daarna tot het stellen
van redelijker eisen overgegaan, doch dat
neemt niet weg dat de veroorzaakte vertraging
een niet te ramen schade aan de economische
ontwikkeling van het land kan hebben toege
bracht.
Ook dichter bij huis kan men voorbeelden van
het overtrekken van nauwkeurigheidseisen
aantreffen. Wanneer in ons land gevraagd
wordt dwarsprofielen te meten over het tracé
van een te ontwerpen weg of kanaal, dan
wordt hiervoor meestal gebruik gemaakt van
een waterpasinstrument voorzien van af
standsdraden. Voor het verkrijgen van vol
doende nauwkeurigheid in de afstanden is het
nodig de baakaflezingen tot in millimeters te
verrichten. Men krijgt daardoor vanzelf ook
de hoogten van de gemeten punten in milli
meters uitgedrukt. Bij het toepassen van dit
instrumentarium heeft het bovendien enige zin
om deze nauwkeurigheid in de aflezingen te
eisen, daar zij vrijwel geen extra tijd kost en
een eenvoudige controle op meetfouten moge
lijk maakt. Wanneer men echter op grond
hiervan de eis stelt, zoals in de praktijk her
haaldelijk is voorgekomen, dat een profiel
meting een tot op millimeters nauwkeurig re
sultaat moet leveren, dan maakt men een prin
cipiële fout, die duidelijk wordt als men be
denkt:
1. dat de terreinoppervlakte veelal niet beter
geïdealiseerd kan worden dan overeen
komt met een standaardafwijking van 2 a
3 cm;
2. dat stilzwijgend aangenomen wordt dat
men de in het profiel gekozen en gemeten
punten door rechte lijnen verbonden mag
denken. De hieruit voortvloeiende ver
schillen met de werkelijkheid kunnen ech
ter heel gemakkelijk tot 10 cm of meer op
lopen;
3. dat aangenomen wordt dat men tussen de
profielen een lineaire interpolatie mag toe
passen. Ook hierbij zijn echter afwijkingen
van enkele dm's geen uitzondering.
Op grond van deze overwegingen is het dui
delijk dat een standaardafwijking van 4 a 5
cm in de hoogtebepaling voor de praktijk ruim
voldoende kan worden geacht en dat de be
trouwbaarheid van de daaruit berekende hoe
veelheden voor grondverzet of dergelijke niet
verbeterd wordt door millimeters te eisen.
Voor het beantwoorden van de vraag of de
fotogrammetrische methode voldoende nauw
keurigheid levert willen we uitgaan van op een
redelijke basis geformuleerde eisen voor deze
nauwkeurigheid. Als men dit doet dan blijkt
dat bij de huidige stand van de techniek het
antwoord op deze vraag in de meeste gevallen
bevestigend kan luiden.
Enkele getallen mogen dienen om dit te illus
treren. Ze zijn in hoofdzaak ontleend aan pu-
blikaties over proeven die werden genomen
onder leiding van twee internationale orga
nisaties, namelijk de „Organisation Euro-
péenne d'Etudes Photogrammétriques Expéri-
mentales", bij afkorting O.E.E.P.E. genoemd,
en de „International Society for Photogram-
metry", gewoonlijk aangeduid als I.S.P. Uit
de resultaten van deze proeven zijn enkele
vuistregels voor het karakteriseren van de be
reikte nauwkeurigheid afgeleid, die als volgt
kunnen worden omschreven. De standaardaf
wijking in de positie van een punt, bepaald uit
een op terrestrisch gemeten paspunten ge
oriënteerd model, is ongeveer 12 micron, ge
meten op de schaal van het negatief. Dit bedrag
blijkt in hoge mate onafhankelijk te zijn van
de vlieghoogte en van de gezichtsveldhoek
van de gebruikte camera.
De standaardafwijking in de bepaling van de
hoogte van èen punt is onder dezelfde voor
waarden ongeveer 0,12 promille van de vlieg
hoogte. Ook dit bedrag is in hoge mate onaf
hankelijk van de vlieghoogte en van het ca
meratype.
De standaardafwijking in de afstand tussen
twee punten gemeten in hetzelfde beeldenpaar
kan gesteld worden op ongeveer 8 micron,
eveneens uitgedrukt in eenheden op de schaal
van het negatief.
Met deze getallen als richtlijn kan men voor
elk geval waarin de gewenste nauwkeurigheid
is vastgesteld, afleiden welke fotoschaal of
welke vlieghoogte nodig is om aan deze eisen
