werd als correctie beschouwd voor de verstel
bare baak. Daarna werd de meting herhaald
voor controle.
C3k: De schijnbare schaalfout der verdeling
op de invarbaak tengevolge van een ontregeld
baakniveau is niet op te heffen, zodat we ons
baakniveau vooraf moeten controleren.
Het onderzoek naar de reële schaalfout kan
als volgt gebeuren:
Monteer een standaardmeter op een horizon
taal geplaatst raam. Maak een mogelijkheid
de baak hieraan met een klein interval even
wijdig te verschuiven. Zorg dat de standaard
meter haaks over op de baak kan worden ge
projecteerd. Monteer aan dit mechanisme een
micrometer met nonius ter nauwkeurige af
lezing van iedere afwijking ten opzichte van
deze standaardmeter. Verricht nu metingen bij
allerlei temperaturen. Herhaal deze metingen
voor elke meter van de baak; daardoor zal
men tevens een voldoende indruk krijgen aan
gaande de nauwkeurigheid van de latverde-
ling. Houd bij metingen met grote hoogtever
schillen (Zuid Limburg, Veluwe) rekening met
de gevonden correcties. Afwijkingen in de
orde van 1 dmm per meter zijn normaal.
C3i: De invloed van de wijziging der tempe
ratuur van de omgeving op het instrument.
Om tot een inzicht te komen hoe het instru
ment reageert op snelle temperatuurswijziging
(b.v. vanuit de schaduw in de zon of vanuit
een verwarmd vertrek in de vorst), werd door
mij met de Ni 004 uit Jena en de Wild N3
gelijktijdig en onder dezelfde omstandigheden
een temperatuurproef uitgevoerd. (Zie mijn
artikel in Geodesia 1961 nr. 10.)
C3d: De refractie en de ondulatie.
De refractie (breking) is afhankelijk van de
temperatuurs- en drukverschillen in de lucht
lagen. Hierbij zijn de temperatuursverschillen
hoofdzakelijk van belang. Aangezien een kou
de luchtlaag een grotere dichtheid heeft dan
een warme luchtlaag, breekt een lichtstraal op
de scheiding van warmere en koudere lucht
volgens de wetten van Snellius. Een licht
straal, die evenwijdig aan de normaal door
luchtlagen van verschillende temperatuur
gaat, zal dan ook geen refractie vertonen. Een
lichtstraal, nagenoeg evenwijdig door deze
lagen gaande, zoals hier te lande veelal het
geval is, zal hier de maximaal mogelijke hin
der van kunnen ondervinden; theoretisch be
staat er zelfs kans op reflectie. De refractie is
minimaal bij bewolkte hemel, vochtig of (mot)
regenachtig weer (weinig temperatuursver
schil in de diverse luchtlagen), bij wind of
ondulatie (de luchtlagen worden geroerd, zo
dat de temperatuur homogeen wordt). Ondu
latie heeft echter weer de nadelen van ver
groting der drukverschillen terwijl het on
mogelijk is om bij sterke ondulatie nog nauw
keurig waar te nemen. In dat geval kan water
passen over warmte-absorberende ondergrond
soms uitkomst brengen.
Om een indruk te krijgen van de eventuele
noodzaak de heenmeting 's morgens en de
terugmeting 's middags uit te voeren heb ik
een onderzoek ingesteld naar het gedrag van
de refractie over enkele dagen tijdens de
nauwkeurigheidswaterpassing te Dordrecht.
Er werd met een vooraf nauwkeurig geregeld
waterpasinstrument een doorgaande water
passing uitgevoerd van punt 2 naar punt 9
(zie fig. 3) waarbij de punten 3 t/m 8 als over
slagpunt werden behandeld. De punten 1 t/m
9 waren speciaal hiertoe aangebrachte merken.
Vervolgens werd de waterpassing herhaald
vanuit punt 1. De punten 2 t/m 9 werden nu
in hoogte bepaald uit beide waterpassingen.
Per punt werd het verschil tussen de 2 gevon
den hoogten verminderd met de aardkrom-
ming in de tabel weergegeven. Deze werkwijze
is op verschillende tijdstippen en dagen her
haald.
Hieruit blijkt, dat de dagelijkse cyclus van
de refractie ('s morgens 0, 's middags door de
verwarming der onderste luchtlagen positief,
daarna 's avonds weer 0 en 's nachts door de
uitstraling negatief) relatief weinig invloed
heeft. Mede door het gematigde, nogal wissel
vallige weer met veelal een stevige wind heeft
het, tenminste voor het herfstseizoen, geen zin
rekening te houden met het tijdstip van de
heen- of terugwaterpassing. Het is een bekend
feit, dat de refractie in de herfst klein is; in
andere jaargetijden zal een dergelijk onder
zoek waarschijnlijk grotere verschillen op-
267
waferparss/'/igr
A X A K
2* tvaéerpcrss/'ngr
3 4 86J
Fig. 3
