l!§f§^
eIe1f
w
Ui
i
Ml Hl
1=111
HtÜ
1
Ijfft
jjjjff
=TTïïrintff
ptjlAin
ïïffïï
■"ÏÏT
\M l
I i
d
rlfTffffj
YMT Mil
/fill T
TiTirnTriffrr
mv
H l 1 ff
J-iil 1111111
M 1 1 1 1 1 111
ïff"ffk
i 11 ft.
il
ÜT"
rmtiiTm
- mill
Lilüi m
Iffffüff
ILL-
i "T'TnTl
"'fff
A
B
^ffgffr;::
H"
ïIïïTTIIlfgP
::::ÏÏT
ff=ïF
1 1
\v
t
Systeem 1
Systeem 2
Systeem 3
°x
16
10
19
°y
21
9
28
n
77
66
77
Tabel 2. Inspiegelprecisie in microns op fotoschaai ter plaatse van
het meetmerk. n aantal punten.
Uit de restvectoren blijkt dat bij de systemen 1 en 3 syste
matische afwijkingen optreden. Bij systeem 1 een schaal-
verschil uit het modelmidden en bij systeem 3 vooral een
vertekening in de lengterichting van het model met de
grootste restvectoren bij de linker en rechter modelrand.
De restvectoren van systeem 2 vertonen geen systema
tische afwijkingen.
Wordt de berekening herhaald met alleen de punten die
in het gebied liggen dat begrensd wordt door de hoofd
punten H, en H2 (fig. 2), dan wordt de inspiegelprecisie
zoals aangegeven in tabel 3.
Systeem 1
Systeem 2
Systeem 3
Ox
12
10
13
°y
21
9
22
n
55
55
55
Tabel 3. Inspiegelprecisie in microns op fotoschaai voor 55 punten.
Als de ingespiegelde beelden van de systemen 1 en 3
worden gecorrigeerd voor radiale schaalvertekening van
uit het midden van het model, dan zijn de standaardafwij
kingen respectievelijk ox 6p, oy 5p en ox 14p,
oy 13p op fotoschaai.
Test B: precisie van de ingespiegelde punten in het ge
zichtsveld
Het probleem bij de bepaling van de inspiegelprecisie
buiten het centrum van het gezichtsveld is dat men de
afwijkingen niet met het meetmerk kan meten. Het cen
trum van het gezichtsveld wordt namelijk bepaald door de
positie van het meetmerk. De volgende testopzet is daar
om ontworpen.
Eén van de roosterplaten in de analytische plotter wordt
vervangen door een fijn grid van lijnen. Het fijne raster is
vervaardigd met een automatische tekentafel en is ver
volgens fotografisch verkleind. De lijnafstand bedraagt
200 p en de dikte van de lijnen is 10 a 20 p. De centrumlijn
is dikker getekend in verband met de herkenbaarheid. De
standaardafwijking van de punten in het grid bedraagt
2 a 3 micron voor een gebiedje van 2x2 cm.
Bij het uitvoeren van de test wordt de centrumlijn van het
raster ingespiegeld en worden door verplaatsing van het
meetmerk de ingespiegelde lijn samen met de rasterlijn in
stappen van 2 mm verschoven naar de rand van het ge
zichtsveld. De verschuiving wordt zowel horizontaal als
verticaal uitgevoerd. De inspiegelafwijkingen worden met
behulp van het fijne grid afgelezen (fig. 3) in eenheden
van 20 p.
K
tr
c
- "Tl 1 T"
:"itiT
li
nn
êm
hrx
t -
Fig. 3. Bepaling inspiegelafwijking door het gezichtsveld.
M meetmerk. A ingespiegelde lijn. B rasterlijn. d afwijking.
De metingen zijn uitgevoerd in het centrum van het
model. Hierbij is verondersteld dat gemeten afwijkingen
worden veroorzaakt door het lenzenstelsel en de beeld
buis en dus in dezelfde mate voorkomen door het gehele
t Z
J N. N
V
V
i i - - -
Fig. 4. Patronen van de restfouten van de systemen 1, 2 en 3 zonder correctie voor systematische afwijkingen.
Schaal restvectoren 1 mm 40 microns.
NGT GEODESIA 92 7/8
295
