<v
stereomodel. Om de invloed van het zoomen na te gaan,
is de test met verschillende vergrotingsfactoren uitge
voerd.
Wanneer het inspiegelsysteem niet optimaal is afgesteld,
kan een aantal systematische effecten optreden:
constante systematische afwijking in x- en y-richting.
Bij Zeiss en Leica-Kern is het mogelijk om het inge-
spiegelde beeld te verschuiven. Bij Intergraph gebeurt
dit door verschuiving van de beeldbuis of door ver
andering van de richting van de kathodestraal;
rotatie van het ingespiegelde beeld ten opzichte van
de foto. Dit kan veroorzaakt zijn door een gedraaide
positie van het beeldscherm. Bij de drie onderzochte
systemen zijn stelschroeven aanwezig, waarmee de
stand van het scherm kan worden bijgesteld;
verschillende schaalfactoren in x- en y-richting. Hier
voor kan worden gecorrigeerd door het beeldscherm
te hellen;
constant schaalverschil. Door het scherm verderweg
of dichterbij te plaatsen, kan dit worden verholpen.
Een beperkende factor is het scherpte-diepte bereik.
Bij de verwerking van de uitgevoerde metingen is ervan
uitgegaan dat de superimpositiesystemen voor bovenge
noemde effecten kunnen worden gecorrigeerd. Om voor
deze systematische afwijkingen te corrigeren, is een
transformatie toegepast op de waarnemingen met als
parameters twee verschuivingen, twee schaalfactoren en
één rotatie. Patronen van systematische restfouten wor
den gegeven in fig. 4.
In tabel 4 worden de standaardafwijkingen gegeven voor
en na correctie voor systematische fouten.
Systemen
Zoom
°x
Oy
Ox'
n
1
10x
114
92
24
24
43
20x
132
80
14
10
12
40x
74
38
10
10
15
2
5x
170
200
34
36
121
10x
24
88
20
24
21
3
5x
64
12
22
14
121
10x
64
10
16
10
75
Tabel 4. Test B. Standaardafwijkingen in microns op fotoschaai voor
en na correctie van systematische afwijkingen.
ox oy voor correctie. ox' oy' na correctie, n aantal ge
meten punten.
Uit tabel 4 blijkt dat de standaardafwijkingen voor syste
matische fouten na correctie aanzienlijk kleiner worden.
Bij een vergroting van 40x treden bij systeem 1 de
kleinste restfouten op (ox 10^, oy 10/x). Bij een ver
groting van 10x geldt dit voor systeem 3 (ox 16^, oy
10M).
De conclusie is dat de gebruikte systemen alle moeten
worden gekalibreerd indien men ze wil gebruiken voor het
opsporen van fouten in bestandscoördinaten.
296
Test C: bepaling van de dikte van ingespiegelde lijnen
Factoren die de dikte van ingespiegelde lijnen beïnvloe
den, zijn de belichting, de richting van de lijnen en de
zoomfactor.
Wanneer de ingespiegelde lijn sterk wordt belicht ten
opzichte van de foto, zal hij door overstraling dikker zijn
dan in het geval van een zwakke belichting.
Wanneer de lijn wordt weergegeven door een raster-
beeldbuis, zal voor horizontale en verticale beeldscherm-
lijnen de doorsnede van de lijnen 1 pixel zijn. In andere
richtingen kan dit oplopen tot 1,5 pixel.
Fig. 5. Ingespiegelde lijnenwaaier. meetpunt.
Rekening houdend met bovengenoemde factoren is ge
kozen voor de volgende testopzet.
Een lijnenwaaier wordt ingespiegeld (fig. 5).
Bij verschillende zoomstanden wordt bij de cirkel de lijn
dikte bepaald door op twee plaatsen het meetmerk aan
de lijnen te laten raken. Hierbij is in verband met het
gekartelde karakter van de lijnen gekozen voor een zo
groot mogelijk meetmerk. Voor de berekening van de lijn
dikte is het nodig de grootte van het meetmerk te be
palen.
Systeem
Zoom
d
O
n
1
10x
44
6
9
20x
26
6
9
40x
20
3
9
2
5x
26
9
9
10x
22
9
9
20x
24
13
9
3
10x
76
14
9
20x
74
7
9
Tabel 5. Lijndikte bij verschillende systemen en zoomstanden.
n aantal lijnen, d lijndikte in microns,
o standaardafwijking lijndiktebepaling (microns).
NGT GEODESIA 92 - 7/8
