-M>4)
u
Ill
__bb
sinz sin i
h A
sin i sin i
xh' b cotg i xi b cotg i
Xl A cotg i X XL' h cotg z
waarin Zl Z0 h en Zl X3 h.
De grootheden die in de formules (14) voorkomen kunnen alle
worden voorgesteld in het vlak door L loodrecht op de snijlijn van op-
namevlak en kaartvlak. Hiervan zullen we gebruik maken om aan
(14) een meetkundige interpretatie te geven (zie fig. 7).
Uit fig. 7 volgt dat de vier vergelijkingen (14) aangeven dat bij alle
waarden van i de afstanden: LT, L US T en SU constant blijven.
M.a.w. betekent dit, dat bij verschillende waarden van i de projectie
van de opname onveranderd blijft als L zich daarbij beweegt op de
meetkundige plaats van het vierde hoekpunt van het parallelogram, dat
door de drie punten T, S en U wordt bepaald.
Deze eigenschap is, zij het langs andere weg afgeleid, uit de projec
tieve meetkunde reeds bekend. Zij geeft ons hier een welkome moge
lijkheid om, behalve aan de meetkundige voorwaarden, tevens te vol
doen aan de eisen die op optische gronden moeten worden gesteld.
IV Optische voorwaarden bij ontschranking.
Behalve de eisen van meetkundige aard moet men bij de ontschran
king zorgen voor een scherpe afbeelding van de geprojecteerde opname
op het kaartvlak.
Hieruit volgen twee voorwaarden die met behulp van eenvoudige
regels uit de optica gemakkelijk bewezen kunnen worden, nl.
X
Y
c
Fig- 7
