trekken voor de praktijk; men hoede zich echter voor generaliseren.
De overige foutenbronnen, dus waarnemer, instrument en baak,
worden uitvoerig en grondig behandeld, alleen mis ik de fouten
voortkomende uit de optische inrichting van de dubbelbeeldaf
standsmeters.
Hoofdstuk 4: „Genauigkeit der optischen Streckenmessung" is
vooral interessant indien men het vergelijkt met de opvattingen
hierover in Nederland. De nauwkeurigheid die men uit uitgebreide
onderzoekingen heeft gevonden, is vooral voor de dubbelbeeld-
afstandsmeting veel groter dan men hier in het algemeen denkt.
Hoofdstuk 5 behandelt de praktische toepassing van de diverse
instrumenten.
Hoofdstuk 6: „Genauigkeit optisch gemessener Polygonzüge"
behandelt de nauwkeurigheid van de punten van verschillende
typen veelhoeken, die volgt uit de nauwkeurigheid van lengte
en hoekmeting. Dit probleem is in het algemeen behandeld; het
hoofdstuk zou dan ook moeten heten: „Genauigkeit von Polygon
züge".
Hoofdstuk 7 is voor Nederland van minder betekenis omdat
hier de nauwkeurigheid van de indirecte afstandsmeting verge
leken wordt met de eisen die men in Duitsland (en ook in Oosten
rijk) aan veel driehoeksmetingen in het algemeen stelt.
Hoofdstuk 8: „Ausgleichung optisch gemessener Theodolitzüge"
behandelt de strenge vereffening van de veelhoek en vier benade
ringsmethoden. Welke methode men kiest hangt af van de sluitterm
in langs- en dwarsrichting en van de uitbuiging. Als men deze
factoren kent, kiest men die benaderingsmethode, die in dit spe
ciale geval het minst afwijkt van de strenge vereffening.
Als men het boek als geheel bekijkt, mag men wel zeggen, dat
dit werk het probleem van de indirecte afstandsmeting grondig,
uitgebreid en objectief behandelt. Jammer is alleen, dat de eco
nomische aspecten van de meting zelfs niet worden genoemd.
Voor iemand die zich in het probleem van de indirecte afstands
meting wil verdiepen, is dit boek onmisbaar. De bruikbaarheid
wordt nog verhoogd door de zeer uitgebreide litteratuurlijst.
J. van Gij sen.
G. Förstner, Genauigkeit der optischen Streckenmessung
mit Theodolit und Basislatte. VIII -f- 58 blz. tekst, 16 blz.
figuren. Verlag der Bayerischen Akademie der Wissenschaften,
München, 1955.
De laatste tijd bereiken ons in Wageningen vele vragen, vooral
van landgenoten in het buitenland, over snelle en toch nauwkeurige
metingen over uitgestrekte gebieden. En steeds komen wij dan tot
veelhoeken, gemeten met theodoliet en basisbaak. Het boven
genoemde boek behandelt dit probleem zo algemeen mogelijk.
Ik wil dit boek niet uitgebreid bespreken, maar indien men met
2Ó2
