u;
f/js
f
t -|
nauwkeurigheid de tolerans niet overschrijdt, terwijl bij deformatie
van het fotogrammetrisch model deze op dicht bij elkaar gelegen
punten eenzelfde invloed zal hebben. In de eerste plaats speelt bij
de systematische verschillen natuurlijk ook weer de lange periode
van anderhalf jaar tussen beide metingen een grote rol.
235
4*
v\ -0
^3
»S
