170
zocht, niet alleen om een optimaal resultaat te verkrijgen, maar
ook om de nauwkeurigheid van het eindresultaat te kunnen bepalen
of te kunnen voorspellen.
Een tweetal voordrachten is gehouden over superwij dzicht-
opnamen en eveneens twee over de nauwkeurigheid van het tekenen
van hoogtelijnen. Verder dienen nog genoemd te worden de voor
drachten over: de toepassing van de fotogrammetrie bij het ont
ginnen van kolenbekkens (zowel bovengronds als ondergronds),
de topografische problemen in minder ontwikkelde landen, het
werk van de O.E.È.P.E. en een voordracht over luchtfotointerpre
tatie. Tot slot wordt hier nog vermeld de lezing van Prof. Dr.
R. Finsterwalder over fotogrammetrische kaarteringen op kleine
schaal.
In het bovenstaande is slechts getracht een enkele indruk weer
te geven van de Photogrammetrische Wochen. Dat van sommige
voordrachten een korte inhoud is weergegeven en dat andere daar
entegen slechts genoemd zijn of in het geheel niet zijn vermeld,
moet gezien worden als een vrij willekeurige greep van onderge
tekende. In elk geval is niet naar volledigheid gestreefd noch ge
poogd een aanwijzing te geven aangaande de belangrijkheid van
de onderwerpen.
Naast de wetenschappelijke voordrachten waren zes middagen
gereserveerd om demonstraties van verschillende instrumenten van
de firma Zeiss-Aerotopograph bij te wonen. Bovendien was in het
programma van de studieweken een aantal kleine excursies naar
instellingen en diensten in München opgenomen.
Tot slot is een woord van waardering aan het adres van de
organisatoren van deze Photogrammetrische Wochen op zijn plaats.
Ir. G. H. Ligterink
