74 elkaar, door dezelfde opnemers en met dezelfde instru menten, terwijl in Batavia, zooals reeds eerder werd op gemerkt, eerste en tweede meting werden uitgevoerd op verschillende dagen, door verschillende opnemers en met verschillende instrumenten. Daardoor zullen de systematische fouten, welke afhan kelijk zijn van de factoren: tijdstip van meting, (b.v. de ongelijkmatige belichting van de richtpunten) waarnemer (persoonlijke fouten), instrument (instrumentfouten) en frequentie der opstellingen van instrument en signalen (b.v. centreer fouten) voor Hessen het karakter van con stante fouten hebben, doch voor Batavia een meer toe vallig karakter bezitten. Voor Hessen zullen ze dus bij de vorming van de differensen tusschen eerste en tweede meting slechts in geringe mate te voorschijn komen, daar de constante deelen wegvallen, terwijl het gemiddelde van beide metingen dit constante deel volledig zal bevatten, het geen tot uiting komt in de sluitfouten der polygonen. (Het groote verschil tusschen de middelbare fout uit differensen en die uit de sluitfouten schrijft Blasz toe aan de ongelijkmatige belichting ,,Phasenbeleuch- tung" van de richtpunten). Voor Batavia daarentegen zullen deze fouten in verband met hun meer toevallig karakter elkaar zoowel bij de vorming der differensen als bij de bepaling der sluitfouten deels opheffen, deels versterken, zoodat men een grootere overeenstemming dan voor Hessen kan verwachten tusschen de inwendige en uitwendige nauwkeurigheid. Hoewel men dus voor de verhouding van de inwendige middelbare fouten van Batavia en Hessen de volgende getallen vindt: 4.6 5.6 hoekmeting: r~7 1.84 Z O lengtemeting: 3.50 1.6

Digitale Tijdschriftenarchief Stichting De Hollandse Cirkel en Geo Informatie Nederland

Tijdschrift voor het Kadaster in Ned.-Indië | 1934 | | pagina 22